//

Dynamiczne proste ścinanie

Urządzenie Dynamiczne Proste Ścinanie (Dynamic/Cyckle Simple Shear Test System (DSSS) został zaprojektowany w celu wykonywania cyklicznego prostego ścinania gruntów charakteryzujących się dynamicznymi zmianami właściwości. Umożliwia bezpośrednie badanie ścinania vs. siła/naprężenie w warunkach odwodnionych i nieodwodnionych. System składa się z dynamicznego aparatu prostego ścinania (z odpowiednimi czujnikami) połączonego z szybkim sterownikiem ruchów cyklicznych oraz automatycznych kontrolerów ciśnienia dla ciśnienia wstecznego. Cały system sterowany jest poprzez PC z odpowiednim oprogramowaniem Clisp Studio umożliwiającym konfigurowanie i sterowanie testem oraz rejestrowanie i analizę danych.

 

Parametry systemu:

- Aparat dynamicznego (cyklicznego) prostego ścinania

- Dynamicnzy servosterownik (dwuosiowy)

- Automatyczny kontroler ciśnienia (3000 kPa)

- Czujniki (siła pionowa 5 kN, siła pozioma 5 kN, przemieszczenie 25 mm, ciśnienie wody porowej 10 bar)

 

Właściwości:

- Połączenie z PC poprzez Ethernet

- Siłownik siły poziomej (servomotor z ogranicznikami przesuwu)

- Siłownik siły pionowej (servomotor z ogranicznikami przesuwu)

- Sterowanie osiami oraz siłą/naprężeniem ścinającym

- Precyzyjny pomiar przemieszczenia poprzez enkoder dla przemieszczenia osiowego/sił ścinających

- Dodatkowy czujnik dla aktywnej kontroli wysokości

- Umożliwia wykonywanie następujących testów:

  - Test prostego ścinania z utrzymywaną stałą wysokością dzięki funkcji aktywnej kontroli wysokości

  - Test cyklicznego ścinania z cykliczną siłą poziomą zadawaną na próbkę i z utrzymywaną stałą siłą pionową

  - Test cyklicznego ścinania z cykliczną siłą poziomą zadawaną na próbkę i z utrzymywaną stałą wysokością

  - Test cyklicznego ścinania z cykliczną przemieszczeniem poziomym zadawanym na próbkę i z utrzymywaną stałą siłą pionową

  - Test cyklicznego ścinania z cykliczną przemieszczeniem poziomym zadawanym na próbkę i z utrzymywaną stałą wysokością

 

 

- Wymiary próbki 70 mm średnica x 70 mm wysokość (opcjonalnie dostępne 50 mm)

- Pionowa częstotliwość 0.01 Hz do 5.00 Hz (rozdzielczość 0.01 Hz) (opcjonalnie dostępne 10 Hz)

- Pionowe obciążenie - 5 kN do + 5 kN (rozdzielczość 1 N) (opconalnie +/- 10 kN)

- Pionowe przemieszczenie 0.001 do 25.000 mm (rozdzielczość 0.001 mm)

- Pozioma częstotliwość 0.01 Hz do 5.00 Hz (rozdzielczość 0.01 Hz) (opcjonalnie dostępne 10 Hz)

- Poziome obciążenie - 5 kN do + 5 kN (rozdzielczość 1 N) (opconalnie +/- 10 kN)

- Poziome przemieszczenie 0.001 do 15.000 mm (rozdzielczość 0.001 mm)

- Tempo próbkowania danych 1000 pkt/sek

- Kształt fali sinus, kwadrat, trójkąt, haversine, piłokształtna, definiowany przez użytkownika

 

  • Wyposażenie dla laboratoriów - aparatura kontrolno-badawcza
aparatura kontrolno-badawcza - Torpol